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二維平移光譜響應度測試探針臺是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。
TLRS系列簡易型基礎測試探針臺是我司根據產業用戶生產檢測需要，而特定設計的一款簡易便攜高性價比探針臺，滿足產線基本電學參數測試同時兼顧低成本優勢，已成為工業生產領域批量檢測的理想之選。
TLPH系列精密型光電測試探針臺是基于TLRH系列升級激光顯微鏡而來，實現高分辨率成像的同時兼顧外引激光光路，實現光電流與IV的雙功能檢測，是光電芯片/器件測試的理想之選。
TLRB系列標準型基礎測試探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要，而開發設計的一款高性價比探針臺系統，其功能齊全，滿足常規IV電學測試需要，廣泛應用于芯片、半導體材料/器件等光電相關領域。
高低溫真空探針臺系統主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件因接觸空氣所帶來的測試結果誤差，是材料學、芯片、半導體器件等方向實驗分析的理想選擇。
TLRB系列標準型基礎測試探針臺是我司根據高校科研及產業研發需要，而開發設計的一款高性價比探針臺系統，其功能齊全，滿足常規IV電學測試需要，廣泛應用于芯片、半導體材料/器件等光電相關領域。
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