半導體晶圓測試探針臺集成度高，功能實用，性價比的模塊化探針臺，該探針臺系統包括顯微成像模塊、四維調整載物臺、真空吸附系統、探針座、探針臺體等。多用于晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、材料電阻率測試以及用于搭建材料電學測試系統、光電探測器光電響應系統、光電Mapping測試系統等。