二維平移光譜響應度測試探針臺

簡要描述：二維平移光譜響應度測試探針臺是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。

產品型號：TLRHC系列
廠商性質：生產廠家
更新時間：2024-06-12
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產品分類CLASSIFICATION

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產品介紹

二維平移光譜響應測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應的設備。這種探針臺結合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學性能測試。 PLCTS光譜響應測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應的設備。這種探針臺結合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學性能測試。在光譜響應測試中，探針臺通過精確控制光源和探測器，測量材料在不同波長光照射下的響應情況。通過測量光譜響應度、量子效率等參數，可以了解材料對不同波長光的吸收、反射和透射特性，進而評估其光學性能和應用潛力。

技術優勢

·半圓形探針架，可放置6個DC探針座;

· 漏電精度100fA/10pA;

· 整體位移精度3μm;

· 1微米以上電極/PAD使用;

· 樣品臺XYZR四維調節;

· 模塊化設計，可以搭配不同構件完成多種不同測試需求;

模塊介紹

二維平移光譜響應度測試探針臺

通用參數：

樣品臺尺寸	4,6,8,12英寸
位移精度	3um
漏電精度	100fA
線纜規格	三同軸線纜
探針座精度	3um
顯微鏡移動	25*25mm
位移維度	XY整體位移
行程	X:100mm Y:100mm

產品示意圖：

二維平移光譜響應度測試探針臺

產品選型：

產品型號	樣品臺尺寸	樣品臺位移精度	探針座位移精度	漏電流精度
TLRHC-04	4英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-06	6英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-08	8英寸	3um	3um	100fA
TLRHC-12	12英寸	3um	3um	100fA

譜量光電可根據客戶實際應用需求，定制配套二維平移光譜響應度測試探針臺系統，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯系詳詢。

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二維平移光譜響應度測試探針臺

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