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南京譜量光電即將參展第二屆新興功能材料與器件研討會（南京）會議相關(guān)信息：會議主題：第二屆新興功能材料與器件研討會會議時間：2024年11月29日—12月01日會議地點(diǎn)：中國?南京豐大國際大酒店譜量展位：3號會議簡單介紹：第二屆新興功能材料與器件研討會定于2024年11月29日-12月01日在南京市舉行。本次大會專注新興功能材料與器件的前沿領(lǐng)域，大會主題包括但不限于光電功能材料與器件、二維材料與器件論壇、半導(dǎo)體材料與光電子器件論壇,納米材料與智能傳感器件論壇。從學(xué)術(shù)和產(chǎn)業(yè)化視角...

上海某前沿科創(chuàng)企業(yè)TLRB系列標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測試探針臺交付驗收核心指標(biāo)：真空吸附卡盤：6英寸樣品臺位移精度：探針座位移精度：漏電流精度：兼容多種光學(xué)顯微鏡，可外引光路實(shí)現(xiàn)光電mapping測試是半導(dǎo)體材料或器件電學(xué)測試的理想選擇。TLRB系列探針臺簡單介紹：.模塊化設(shè)計，可以搭配不同構(gòu)件完成不同測試；.最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試;.探針臺整體位移精度高達(dá)3μm，樣品臺精密四維調(diào)節(jié)；.兼容多種光學(xué)顯微鏡，可外引光路實(shí)現(xiàn)光電mapping測試；.滿足1μm以上電極/PAD使用;....

第二屆智能材料與光電子器件研討會（寧波）成功舉辦，譜量光電攜精密型基礎(chǔ)測試探針臺，精密型光電流測試探針臺，以及一些探針臺相關(guān)附件參展。兩臺設(shè)備共同亮相譜量光電此次展出了精密型基礎(chǔ)測試探針臺以及精密型光電流測試探針臺，還有多種類型探針座，多種類型探針，電學(xué)測試夾具，電磁屏蔽箱等探針臺相關(guān)附件。如果你的實(shí)驗室缺少整套的測試設(shè)備，您可以直接選擇我們的探針臺，如果您之前已經(jīng)購買過探針臺，不妨先從我們的探針臺附件產(chǎn)品試一試，相信我們品類眾多，精度覆蓋廣，工業(yè)設(shè)計優(yōu)雅，使用便利的探針臺附...

南京譜量光電即將參展第二屆智能材料與光電子器件研討會（寧波）會議相關(guān)信息：會議主題：第二屆智能材料與光電子器件研討會會議時間：2024年5月17日—5月19日會議地點(diǎn)：中國?寧波九龍湖開元度假村會議簡單介紹：2024年05月17日-19日，智能材料與光電子器件研討會擬在浙江寧波舉行。本次大會專注“智能材料與光電子器件”的前沿領(lǐng)域，大會主題包括但不限于光電子集成與器件、半導(dǎo)體技術(shù)與器件、納米工藝與器件、智能傳感器件、神經(jīng)形態(tài)器件。同時，本次大會得成功舉辦擬為學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界提供更...

譜量光電（PLCTS）參展2024中國（南京）國際科教技術(shù)及裝備博覽會2024年3月21日至23日，譜量光電再次參展于南京國際展覽中心舉辦的中國（南京）國際教育裝備暨科教技術(shù)展覽會（EESE），展會持續(xù)三天，為眾多高校，科研機(jī)構(gòu)，實(shí)力廠商提供了良好的溝通交流合作的平臺。作為南京本地企業(yè)，對于這次2024中國（南京）國際科教技術(shù)及裝備博覽會，譜量光電（PLCTS）非常重視，提前準(zhǔn)備了精密型組合式手動探針臺，二維材料轉(zhuǎn)移平臺，三線擺高性能氣浮隔振光學(xué)平臺的單頁供獲取閱讀，并現(xiàn)場展...

2024中國（南京）國際科教技術(shù)及裝備博覽會展會時間：3月21日-23日展會地點(diǎn)：中國·南京國際展覽中心（南京市玄武區(qū)龍蟠路88號）譜量光電展位：B199展位譜量光電現(xiàn)場展品：精密型組合式手動探針臺除了產(chǎn)品現(xiàn)場展出之外，譜量還制作了三線擺高性能氣浮隔振光學(xué)平臺產(chǎn)品單頁，二維材料轉(zhuǎn)移平臺單頁，精密型組合式手動探針臺單頁，可現(xiàn)場聯(lián)系獲取高清電子版及紙質(zhì)版。活動安排：現(xiàn)場可參觀我司主打產(chǎn)品精密型組合式手動探針臺，可與我司銷售經(jīng)理，技術(shù)工程師，售后工程師交流產(chǎn)品細(xì)節(jié)，提出指導(dǎo)意見，有...

532/1064nm雙波長亞納秒重頻可調(diào)諧激光器近期，我公司推出一款雙波長亞納秒重頻可調(diào)諧激光器產(chǎn)品，該產(chǎn)品已經(jīng)實(shí)現(xiàn)交付驗證。核心指標(biāo)工作波長：532nm；脈沖寬度：單脈沖能量：1mJ；重復(fù)頻率：10Hz-10KHz連續(xù)可調(diào)（步距1Hz）；能量穩(wěn)定性：光束質(zhì)量M(2)：光束發(fā)散角：指向穩(wěn)定性：脈沖串鎖定功能（上位機(jī)控制）；支持內(nèi)外觸發(fā)，同步信號輸出（光同步&電同步）；輸出方式：自由空間；冷卻方式：水冷；使用環(huán)境溫度：0~40℃；應(yīng)用方向生物超聲成像,微流控，激光雷達(dá)，激光遙感...

隨著科技的不斷進(jìn)步，半導(dǎo)體行業(yè)作為現(xiàn)代社會的核心產(chǎn)業(yè)之一，正日益發(fā)展壯大。在半導(dǎo)體制造過程中，芯片測試探針臺作為一種關(guān)鍵的測試設(shè)備，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。本文將介紹該產(chǎn)品的用途、原理、使用方法以及市場前景等方面的內(nèi)容。一、用途：芯片測試探針臺主要用于對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行功能和性能測試。它可以模擬芯片在實(shí)際工作環(huán)境中的各種信號輸入和輸出，以確保芯片的可靠性和穩(wěn)定性。通過該產(chǎn)品，制造商可以及時發(fā)現(xiàn)并修復(fù)芯片設(shè)計或制造過程中的問題，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭力。二、原理：芯片測試探針臺的工作...

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中，一個看似不起眼但實(shí)則至關(guān)重要的設(shè)備——半導(dǎo)體晶圓測試探針臺，正默默地發(fā)揮著它的作用。它是微觀世界中的“指揮塔”，掌控著芯片質(zhì)量的命脈。一、探針臺的重要性半導(dǎo)體晶圓測試探針臺，簡稱探針臺，是半導(dǎo)體測試環(huán)節(jié)中的核心設(shè)備。它的主要功能是實(shí)現(xiàn)對晶圓上芯片的電性能測試，確保芯片在封裝前達(dá)到預(yù)定的性能指標(biāo)。探針臺通過精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和高靈敏度的測試系統(tǒng)，能夠準(zhǔn)確、快速地定位并接觸芯片上的微小電極，從而完成測試任務(wù)。二、技術(shù)特點(diǎn)與創(chuàng)新探針臺的設(shè)計和制造涉及到眾多高精尖技術(shù)，...

高低溫真空探針臺是現(xiàn)代科學(xué)研究領(lǐng)域中一項重要的實(shí)驗設(shè)備，它為科學(xué)家們打開了通往未知領(lǐng)域的大門。這個奇妙的裝置結(jié)合了高溫、低溫和真空環(huán)境，提供了理想的條件來研究材料的性質(zhì)、反應(yīng)動力學(xué)以及電子器件等諸多領(lǐng)域。首先，讓我們來看看該設(shè)備在材料科學(xué)中的應(yīng)用。通過將樣品置于高溫或低溫條件下，并減少周圍環(huán)境的干擾，科學(xué)家們能夠詳細(xì)地研究物質(zhì)在不同溫度下的行為特性。這對于探索新材料的性能、研究相變過程以及制備納米結(jié)構(gòu)材料等方面具有重要意義。高低溫真空探針臺還可以用于測試材料的熱導(dǎo)率、熱膨脹系...

在現(xiàn)代科技快速發(fā)展的時代，無線通信已經(jīng)成為人們生活和工作中*一部分。而要實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的無線通信，關(guān)鍵的一環(huán)就是需要精確測量和分析電磁場的特性。這就需要依靠射頻探針臺這一神奇的儀器來完成。本文將探討該設(shè)備的原理、應(yīng)用以及對無線通信領(lǐng)域的重要意義。1.射頻探針臺的原理與構(gòu)成該設(shè)備是一種用于測量射頻(RadioFrequency，簡稱RF)電場和磁場的儀器。它由探針、放大器、采樣器、處理器等部分組成。在測量過程中，探針被放置在待測設(shè)備附近，接收并傳遞射頻信號到放大器進(jìn)行放大。然后，采...

在微電子產(chǎn)業(yè)中，芯片測試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。而芯片測試探針臺，作為這一環(huán)節(jié)的核心設(shè)備，扮演著至關(guān)重要的角色。本文將詳細(xì)介紹該產(chǎn)品的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及市場前景。一、工作原理芯片測試探針臺是一種高精度的測試設(shè)備，用于在制造過程中對芯片進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的測試。其工作原理是利用探針與芯片引腳接觸，通過電信號傳輸來檢測芯片的性能。在測試過程中，探針臺會根據(jù)預(yù)設(shè)的測試程序，自動定位和移動探針，以實(shí)現(xiàn)對芯片各個引腳的快速、準(zhǔn)確測試。二、應(yīng)用領(lǐng)域芯片測試探針臺廣泛應(yīng)用于微電子產(chǎn)...