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上海某前沿科創企業 TLRB系列標準型基礎測試探針臺 交付驗收
核心指標:
真空吸附卡盤:6英寸
樣品臺位移精度:<10μm
探針座位移精度:<3μm
漏電流精度:<10pA
兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現光電mapping測試
是半導體材料或器件電學測試的理想選擇。
TLRB系列探針臺簡單介紹:
.模塊化設計,可以搭配不同構件完成不同測試;
. 最大可用于12英寸以內樣品測試;
.探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調節;
. 兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現光電mapping測試;
. 滿足1μm以上電極/PAD使用;
. 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內);
. 探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設計;
. 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座;
. 配顯微鏡二維精密調節功能,且可選配多種行程及驅動方式。