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產(chǎn)品中心
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測(cè)試探針作為探針臺(tái)的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測(cè)件電極，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)導(dǎo)通條件，從不同應(yīng)用場(chǎng)景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測(cè)試。
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